項(xiàng)目

溫度

時(shí)間

其他

高溫試驗(yàn)-1

70℃/40～50%R.H.

120小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫試驗(yàn)-2

70℃

240小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫試驗(yàn)-3

80℃

1000小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-1

-20℃

120 小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-2

-20℃

240 小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

低溫試驗(yàn)-3

-40℃

1000小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)-1

60℃/90～95%R.H.

-

96小時(shí)(必須沒(méi)有水凝結(jié)于待測(cè)品)，然后離開(kāi)至室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試(絕緣阻抗值必須要有1MΩ數(shù)值)，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)-2

60℃/90%RH

120小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)-3

70℃/90%RH

1000小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)
試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

高溫高濕試驗(yàn)-4

60℃/95%RH

-

240小時(shí)，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)
試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-1

-20℃(30分鐘)
↓
70℃(30分鐘)

-

10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-2

-20℃(30分鐘)
↓
80℃(30分鐘)

-

10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-3

-20℃(1小時(shí))
↓
80℃(1小時(shí))

-

10 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

冷熱沖擊試驗(yàn)-4

-40℃(30分鐘)
↓
80℃(30分鐘)

-

100 cycle，試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試，24小時(shí)之后在測(cè)一次。

蒸汽老化試驗(yàn)

100℃/100%R.H/1000min

-

-

觸控式面板單點(diǎn)測(cè)試
(單點(diǎn)壽命)
(敲擊壽命)

-

1.以250g、8mm半徑的Silicon手指，每秒兩次打擊在觸控?zé)赡煌稽c(diǎn)上，并且觸控?zé)赡灰拥接?jì)算機(jī)系統(tǒng)，且要再通電的情況下測(cè)試。
2.1千萬(wàn)次以上
3.≧1,000,000次(依照不同測(cè)試方法)

觸控式面板書(shū)寫(xiě)測(cè)試
(劃線測(cè)試)
(筆劃壽命)

-

1.以250g、8mm半徑的無(wú)水筆，在一吋的在線來(lái)回測(cè)試，并且觸控?zé)赡灰拥接?jì)算機(jī)系統(tǒng)，且要再通電的情況下測(cè)試。
2.10萬(wàn)次以上

觸控式面板表面硬度

-

3H以上

觸控式面板透光度

類(lèi)比式：80﹪以上
數(shù)位式：76﹪以上

觸控式面板線性

-

＜1.5﹪